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  • 門(mén)鎖老化測(cè)試架
    門(mén)鎖老化測(cè)試架

    門(mén)鎖老化測(cè)試架適用于電子智能鎖PCBA主板、成品指紋鎖老化測(cè)試作帶載老化測(cè)試。老化架負(fù)載和老化架控制器均采用MCU設(shè)計(jì)，整機(jī)操作簡(jiǎn)單快捷，性能穩(wěn)定可靠，是老化電子智能門(mén)鎖的理想選擇。

    更新時(shí)間：2023-07-03型號(hào)：瀏覽量：1194
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  • 電子智能門(mén)鎖老化測(cè)試架
    電子智能門(mén)鎖老化測(cè)試架

    電子智能門(mén)鎖老化測(cè)試架適用于電子智能鎖PCBA主板、成品指紋鎖老化測(cè)試作帶載老化測(cè)試。老化架負(fù)載和老化架控制器均采用MCU設(shè)計(jì)，整機(jī)操作簡(jiǎn)單快捷，性能穩(wěn)定可靠，是老化電子智能門(mén)鎖的選擇。

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